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AEC-Q102與AEC-Q101認證標準的區(qū)別

文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時間：2024-06-18 瀏覽量:

在汽車電子元件的可靠性和質(zhì)量保證方面，AEC-Q101和AEC-Q102是兩個重要的標準。這些標準由汽車電子委員會（Automotive Electronics Council, AEC）制定，分別適用于不同類型的半導(dǎo)體器件。本文將詳細介紹AEC-Q101和AEC-Q102之間的主要區(qū)別，幫助讀者更好地理解這兩個標準的適用范圍和測試要求。


AEC-Q101檢測實驗室.jpg


適用對象

AEC-Q101：適用于車用分立半導(dǎo)體無源元件，包括：

- BJT（雙極結(jié)型晶體管）

- MOSFET（金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管）

- IGBT（絕緣柵雙極型晶體管）

- 二極管（包括整流器、齊納二極管、PIN、變?nèi)荻O管）

- 發(fā)光二極管（LEDs）

- 光電耦合器、光電二極管、光電晶體管


分立半導(dǎo)體aec-q101-1.jpg


AEC-Q102：專用于車用分立光電半導(dǎo)體元器件，包括：

- 發(fā)光二極管（LEDs）

- 激光元件

- 光電二極管、光電晶體管


分立光電半導(dǎo)體AEC-Q102認證.jpg


樣本大小與失效判定標準

AEC-Q101：

- 環(huán)境應(yīng)力測試：每批次3個批次，共77個樣品。LTPD（Lot Tolerance Percent Defective）= 1，即90%置信區(qū)間的失效率為1%。

- 不合規(guī)格品：樣品失效數(shù)不超過20%，否則整批報廢。對于SS測試，統(tǒng)計不合格品數(shù)≤20%，每批次樣品失效率不超過5%。


AEC-Q102：

- 環(huán)境應(yīng)力測試：每批次3個批次，共26個樣品。LTPD=3，即90%置信區(qū)間的失效率為3%。

- 不合規(guī)格品：樣品失效數(shù)不超過20%，否則整批報廢。設(shè)備、機械、物流、分層等方面的失效需立即調(diào)查并提供報告。


失效處置與預(yù)防

AEC-Q101：

- 對于環(huán)境應(yīng)力測試中發(fā)現(xiàn)的失效品，應(yīng)進行失效分析并根據(jù)分析結(jié)果采取預(yù)防措施。如果失效原因是材料或設(shè)計缺陷，則應(yīng)重新進行驗證測試。


AEC-Q102：

- 失效分析與處置要求類似于AEC-Q101，但對因設(shè)備、機械或物流等問題導(dǎo)致的失效需立即報告和采取行動，保證問題不再發(fā)生。


測試項目及條件

AEC-Q101和AEC-Q102在高溫工作、溫度循環(huán)、濕度環(huán)境、功率循環(huán)等測試項目上有一些相似之處，但也存在一些差異。


高溫工作

- AEC-Q101：施加最大偏置。

- AEC-Q102：包括HTOL1和HTOL2兩種測試條件，分別針對最高工作溫度條件下的驅(qū)動電流偏移（HTOL1）和選擇性工作溫度條件下的驅(qū)動電流偏移（HTOL2）。


溫度循環(huán)

- AEC-Q101：低溫-55℃，高溫為最高結(jié)溫（不超過150℃）。

- AEC-Q102：低溫-40℃，高溫根據(jù)具體器件調(diào)整。


濕度環(huán)境

- AEC-Q101：85℃/85%RH，器件施加器件正向偏置。

- AEC-Q102：包括WHTOL1和WHTOL2測試條件，分別在不同濕度和溫度條件下進行。


功率循環(huán)

- AEC-Q101：溫度升至100℃。

- AEC-Q102：詳細規(guī)定了溫度升降范圍和循環(huán)次數(shù)。


高溫存儲

- AEC-Q101：高溫環(huán)境中的存儲和加速老化。

- AEC-Q102：完成功率溫度循環(huán)（PTC）/間歇工作壽命（IOL）、高溫工作（WHTOL1、WHTOL2）、高溫高濕偏置（H3TRB）、耐高溫儲存（HTS）測試后，還包括高加速壽命測試（HAST）、功率和溫度循環(huán)測試（FMG）。


其他測試

AEC-Q101：包括DPA（Destructive Physical Analysis，破壞性物理分析）和熱阻等測試。

AEC-Q102：在DPA、熱阻、可靠性測試方面有更詳細的要求，特別是針對LED和其他光電元件。


結(jié)論

總的來說，AEC-Q101和AEC-Q102分別針對不同類型的半導(dǎo)體器件制定了詳細的測試標準和要求。AEC-Q101主要覆蓋分立半導(dǎo)體無源元件，而AEC-Q102則專注于光電半導(dǎo)體元件。雖然兩者在測試項目和方法上有一定的相似性，但針對器件的特性和應(yīng)用場景，它們在具體要求和條件上有明顯區(qū)別。理解這些差異對于確保電子元件在汽車應(yīng)用中的可靠性和安全性至關(guān)重要。


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